光耦參數(shù)測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)

更新時(shí)間：2020-10-26

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光耦參數(shù)測(cè)試儀型號(hào)：JFY3092B

JFY3092B光耦參數(shù)測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)

5.1.1 耐壓(BVCEO BVECO)

測(cè)試范圍	分辨率	精度	測(cè)試條件
0-1000V	0.1V	<1%+2RD	0-2mA

5.1.2輸入正向壓降(VF)

測(cè)試范圍	分辨率	精度	測(cè)試條件
0-10V	1mV	<1%+2RD	0-400MA

5.1.3輸出端反向漏電流(ICEO)

測(cè)試范圍	分辨率	精度	測(cè)試條件
0-2000uA	1nA	<5% +5RD	0-1000V（+/-1%）

5.1.4反向漏電流(IR)

測(cè)試范圍	分辨率	精度	測(cè)試條件
0-2000uA	10nA	<5% +5RD	VR=0-10V（+/-1%）

5.1.5電流傳輸比(CTR)

測(cè)試范圍

分辨率

精度

測(cè)試條件

0-9999

1% +5RD

BVCE：0-10V

IF:0-400MA （+/-1%）

5.1.6輸出導(dǎo)通壓降(VCE(sat))

測(cè)試范圍

分辨率

精度

測(cè)試條件

0-10.000V

1mV

1% +5RD

IC：0-400mA

IF:0-400mA （+/-1%）

5.1.7：可同時(shí)測(cè)通道數(shù)：1通道，2通道 4通道

5.1.8:可分檔位總數(shù)：16

5.1.9可連接機(jī)械手測(cè)試。

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